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Retos tecnológicos en Metrología (Madrid, 26 septiembre 2017) Imprimir

El próximo día 26 de septiembre tendrá lugar en el Ministerio de Economía, Industria y Competitividad, una jornada informativa sobre los retos tecnológicos a los que se enfrenta la metrología en la presente década y qué soluciones se están planteando para afrontar estos retos desde el Centro Español de Metrología y sus Laboratorios Asociados.

 

La asistencia es completamente gratuita.

Puede ver la agenda prevista y vías de inscripción en el documento adjunto.

Descargar este archivo (Diptico Jornada 2017.pdf)jornada Metrología[jornada Metrología]854 Kb
 
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